









Tester do czujników zegarowych i dźwigniowych Bezprzewodowy
From 1.350,00 €
Stanowisko produkcyjne MICROTECH do kontroli czujników zegarowych i dźwigniowych.
Dostępne testery dla zakresów czujników 25, 50, 100 i 150 mm.
Modyfikacja do wzorcowania z zakresem do 100 i 150 mm wyposażona w liniał cyfrowy do zmiany położenia głowicy mikrometrycznej o zakresie 50 mm.
*taxes are not included
- Opis
- Technical data
- PDF-Datasheet
Opis
Stanowisko produkcyjne MICROTECH do kontroli czujników zegarowych i dźwigniowych.
Dostępne testery dla zakresów czujników 25, 50, 100 i 150 mm.
Modyfikacja do wzorcowania z zakresem do 100 i 150 mm wyposażona w liniał cyfrowy do zmiany położenia głowicy mikrometrycznej o zakresie 50 mm.
Taka konstrukcja statywu daje możliwość szybkiej kontroli czujników zegarowych oraz czujników dźwigniowych, a także zapisywania wyników kontroli w pamięci wewnętrznej lub przesyłania ich do komputera PC w celu dodania do protokołu lub bazy danych.
To stanowisko do wzorcowania czujników zegarowych wyposażone jest w precyzyjną głowicę mikrometryczną sub-mikronową MICROTECH o rozdzielczości 0,1 mikrona.
Główną zaletą tej skomputeryzowanej głowicy mikrometrycznej jest zastosowanie komputerowego systemu pomiarowego od MICROTECH.
Skomputeryzowany moduł pomiarowy czujnika wyposażony jest również w pamięć wewnętrzną, funkcje Go/NoGo z kolorową sygnalizacją, Max/min, funkcję formuły, ręczną kompensację temperatury oraz błędów.
Kolorowy wyświetlacz i ekran dotykowy zapewniają wysoką użyteczność sub-mikronowego czujnika.
Nie ma potrzeby wydawania dodatkowych pieniędzy na baterie, dzięki wbudowanemu akumulatorowi Li-pol.
Wbudowany moduł bezprzewodowego przesyłania danych daje możliwość transferu danych pomiarowych oraz danych z pamięci do oprogramowania MICROTECH MDS. Dostępne są wersje oprogramowania dla systemów Windows, Android oraz urządzeń iOS.
Informacje dodatkowe
| Resolution, mm | |
|---|---|
| Data output | |
| Indication | |
| Meas. range | |
| Micrometer head | Non-rotating, Rotating |








