2D компьютерный штангенрейсмас
search
  • 2D компьютерный штангенрейсмас
  • 2D компьютерный штангенрейсмас
  • 2D компьютерный штангенрейсмас
  • 2D компьютерный штангенрейсмас
  • 2D компьютерный штангенрейсмас
  • 2D компьютерный штангенрейсмас

2D компьютерный штангенрейсмас

Микронный 2D Штангенрейсмас производства МИКРОТЕХ позволяет проводить высокоточные измерений в двух координатах. Дискретность измерения в координате Z - 1 микрон, в координате X - 0.1 микрон.

Микронный 2D Штангенрейсмас производства МИКРОТЕХ позволяет проводить высокоточные измерений в двух координатах. Дискретность измерения в координате Z - 1 микрон, в координате X - 0.1 микрон.
Данные измерений отображаются и сохраняются внутри компьютеризированной MICS системы разработки МИКРОТЕХ и могут передаваться на приложение МИКРОТЕХ MDS Pro для обработки данных, сохранения 2D, 1D графика, архивации данных либо передачи во внешние Windows приложения.
Все Штангенрейсмасы МИКРОТЕХ проходят метрологический контроль а аккредитованной по ISO 17025 лаборатории.

Характеристики

Диапазон до, мм
1000
Дискретность отсчета, мм
0.001
Вывод данных
USB HID
WIRELESS HID
БЕСПРОВОДНОЙ
Индикация
Компьютеризированная 2,4”
Батарея
Li-pol
Калибровка
ISO 17025