2D комп’ютерний штангенрейсмас
search
  • 2D комп’ютерний штангенрейсмас
  • 2D комп’ютерний штангенрейсмас
  • 2D комп’ютерний штангенрейсмас
  • 2D комп’ютерний штангенрейсмас
  • 2D комп’ютерний штангенрейсмас
  • 2D комп’ютерний штангенрейсмас

2D комп’ютерний штангенрейсмас

Патент US10184772, UA99687, UA131637, UA202002000 від MICROTECH

Мікронний 2D Штангенрейсмас виробництва МІКРОТЕХ дозволяє проводити високоточні вимірювання в двох координатах. Дискретність вимірювання в координаті Z - 1 мікрон, в координаті X - 0,1 мікрон.
Дані вимірювань відображаються всередині комп'ютеризованої системи MICS розробки МИКРОТЕХ і можуть передаватися на додаток МИКРОТЕХ MDS Pro для обробки даних, збереження 2D, 1D графіки, архівації даних або передачі в зовнішні додатки Windows.
Всі Штангенрейсмаси МИКРОТЕХ проходять метрологічний контроль а акредитованої по ISO 17025 лабораторії.

Характеристики

Діапазон до, мм
1000
Дискретність відліку, мм
0.001
Виведення даних
USB HID
WIRELESS HID
БЕЗДРОТОВЕ
Індикація
Комп'ютеризована 2,4”
Батарея
Li-pol
Калібрування
ISO 17025